Система BH-PI920
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Для измерения магнитных свойств структурированных магнитных микроустройств
Гибкая, оснащенная оптическим микроскопом система, предназначенная для измерения магнитных свойств тонких пленок и структурированных магнитных микроустройств посредством меридионального и полярного эффектов Керра, а также наблюдения процесса намагничивания образца с высоким пространственным разрешением.