Исследование спектроскопических свойств носителей

Система для исследования спектроскопических свойств носителей с перпендикулярной записью информации и пластин диаметром до 8 или 12 дюймов в диапазоне длин волн от 250 до 700 нм. Образец располагается горизонтально. Регистрируются углы вращения поляризации, спектральная зависимость эллиптичности, петли гистерезиса. Установку можно дооснастить диодным лазером с длиной волны 408 нм.